Производство микроскопов и инспекционных систем на их основе.

Установка контроля МК-АМ

    МИКРОСКОП ДЛЯ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ


    Установка контроля МК-АМ,  предназначенная для визуального и автоматизированного контроля дефектов внешнего вида кристаллов на полупроводниковых пластинах с последующим формированием карты дефектов и возможностью маркировки в автоматическом режиме. В состав установки входит: микроскоп с  автоматизированным столом, специализированное программное обеспечение, маркировщик.