ОАО «Оптоэлектронные системы» приняли участие в международном научно-практическом форуме «Методы, приборы контроля качества и диагностики состояния объекта»

С 5 по 6 апреля ОАО «Оптоэлектронные системы» приняли участие в международном научно - практическом форуме «Методы, приборы контроля качества и диагностики состояния объекта».

На форуме был представлен металлографический микроскоп МИ-2 который предназначен для решения широкого круга задач в разных областях науки, техники и образования. 

Красниковой Екатериной Сергеевной (инженер - программист ОАО «Оптоэлектронные системы») был представлен доклад на тему: «Инвертированные микроскопы ОАО «Оптоэлектронные системы» для исследований в области металлографии».