220033,
г. Минск, пр-т Партизанский, 2/2, к. 15
+375 17 392 04 81 office@optes.by
Разработка сайта creater-logo
В каталог

Вращение: Зажать левую клавишу мыши

Увеличение/уменьшение: Колесо мыши

 
product
product
product
product
product

Микроскоп МИ-МП

ЗАЯВКА НА ПРИОБРЕТЕНИЕ

    • Ход автоматизированного стола по координатам X, Y, мм

      • 100x80

    • Дискретность задания перемещения по координатам X, Y не более, мкм

      • 0.1

    • Погрешность перемещения по координатам X, Y, мкм

      • ±5

    • Ход автоматизированного механизма фокусировки по Z, мм

      • 7

    • Дискретность задания перемещения механизма фокусировки, мкм

      • 0.02

    • Окуляры

      • 10х/22

    • Револьверная головка

      • Пятипозиционная с электромеханическим приводом

    • Освещение:

    • - отраженный свет

      • 12В, 100Вт лампа галогенная

    • - проходящий свет

      • 3В, 3Вт белый светодиод

    • Объективы

      • 5х
      • 10х
      • 20х
      • 50х
      • 100х

    • Числовая апертура

      • 0.1
      • 0.17
      • 0.38
      • 0.5
      • 0.7

    • Линейное поле зрения с окулярами 10х ,мм, не менее

      • 4.4
      • 2.2
      • 1.1
      • 0.44
      • 0.22

    • Рабочий отрезок, мм

      • 16.3
      • 22.5
      • 12.8
      • 10.6
      • 3.2

    • Визуальная разрешающая способность, лин/мм, не менее

      • 300
      • 500
      • 1100
      • 1350
      • 1800

    • Увеличение микроскопа с окулярами 10х и тубусным объективом 1.0х

      • 50х
      • 100х
      • 200х
      • 500х
      • 1000х

    • Увеличение микроскопа с окулярами 10х и тубусным объективом 1.5х

      • 75х
      • 150х
      • 300х
      • 750х
      • 1500х

  • Автоматизированный многопортовый инвертированный микроскоп МИ-МП - микроскоп исследовательского класса с высококачественной оптикой для работы в отраженном и проходящем свете на различных методах контрастирования, предназначен для использования в составе автоматизированных комплексов различного назначения.

     

    Микроскоп позволяет проводить контроль структуры, состава и свойст материалов в производстве, исследования микроструктуры материалов, получать спектральные изображения образцов.

     

    Методы контрастирования: диафрагмирование, светлое поле, поляризационный контраст, ДИК и возможное их комбинирование.