Посты микроконтроля МК-1 на базе микроскопов Микро 200-01 и Микро 200Т-01 предназначены для визуального контроля дефектов внешнего вида структур ИС на фотошаблонах и полупроводниковых пластинах при производстве изделий электронной техники, а также для исследований в других областях науки и техники.