Программное обеспечение

Программное обеспечение предназначено для автоматизированного анализа микроструктуры материалов.

Функциональные возможности:

• Автоматическое построение панорамных изображений. Сканирование микрошлифа по произвольной траектории при ручном перемещении предметного столика микроскопа.
• Встроенная коррекция освещенности поля при построении панорам и покадровой съемке.
• Встроенная компенсация аббераций поля зрения с привязкой к объективу.
• Автоматическая фокусировка при построении панорам и покадровой съемке.
• Цифровой блок промежуточного увеличения. Непрерывная шкала промежуточных увеличений от 1 до 2 крат. Отображение информации об объективе, использованном при съемке, а также выбранного значения промежуточного увеличения.
• Экспресс-оценка структуры. Измерение доли фаз  и  площади сканирования при съемке в режиме "живого" видео. Визуальный контроль точности распознавания фаз.
• Работа с панорамными изображениями без предварительного сжатия. Быстрое отображение просматриваемого участка при перемещении по изображению и/или изменении цифрового увеличения. Визуализация по технологии пирамиды разрешений (аналог Google maps).
• Возможность отключения/ включения слоев (маски, маркеры, аннотации) на изображении.
• Измерения параметров структуры (длин, диаметров, радиуса кривизны, площадей, углов, расстояний между кривыми) с помощью встроенных редакторов.
• Автоматическое построение отчетов по измерениям со статистической обработкой измеренных параметров.
• Электронная база изображений. Хранение, поиск и фильтрация изображений по заданным атрибутам.
• Удаленная работа. Доступ с других компьютеров  локальной сети предприятия  (или по сети Интернет) к просмотру изображений, измерениям, методикам анализа и полученным результатам.
• Готовые решения для автоматизированного анализа, выполненные по российским и международным стандартам: анализ зерна, фазовый анализ, гранулометрический анализ, определение толщины покрытий  и др.